Giới thiệu TEM

Kính hiển vi điện tử truyền qua (TEM) là kỹ thuật phân tích cấu trúc vi vật lý dựa trên kính hiển vi điện tử dựa trên chùm tia điện tử làm nguồn sáng, có độ phân giải tối đa khoảng 0,1nm.Sự xuất hiện của công nghệ TEM đã cải thiện đáng kể giới hạn quan sát cấu trúc vi mô bằng mắt thường của con người, đồng thời là thiết bị quan sát vi mô không thể thiếu trong lĩnh vực bán dẫn, đồng thời cũng là thiết bị không thể thiếu trong nghiên cứu và phát triển quy trình, giám sát quá trình sản xuất hàng loạt và xử lý các quy trình sản xuất. phân tích dị thường trong lĩnh vực bán dẫn.

TEM có rất nhiều ứng dụng trong lĩnh vực bán dẫn, chẳng hạn như phân tích quy trình sản xuất tấm bán dẫn, phân tích lỗi chip, phân tích đảo ngược chip, phân tích quy trình bán dẫn phủ và khắc, v.v., cơ sở khách hàng tập trung ở khắp các nhà máy, nhà máy đóng gói, các công ty thiết kế chip, nghiên cứu và phát triển thiết bị bán dẫn, nghiên cứu và phát triển vật liệu, viện nghiên cứu của trường đại học, v.v.

GRGTEST TEM Giới thiệu năng lực của nhóm kỹ thuật
Nhóm kỹ thuật TEM do Tiến sĩ Chen Zhen đứng đầu và trụ cột kỹ thuật của nhóm có hơn 5 năm kinh nghiệm trong các ngành liên quan.Họ không chỉ có kinh nghiệm phong phú về phân tích kết quả TEM mà còn có kinh nghiệm phong phú trong việc chuẩn bị mẫu FIB, đồng thời có khả năng phân tích các tấm bán dẫn quy trình tiên tiến 7nm trở lên cũng như cấu trúc chính của các thiết bị bán dẫn khác nhau.Hiện tại, khách hàng của chúng tôi ở khắp các nhà máy hàng đầu trong nước, nhà máy đóng gói, công ty thiết kế chip, trường đại học và viện nghiên cứu khoa học, v.v., và được khách hàng công nhận rộng rãi.